離子遷移譜技術(shù)的中心部件是漂移管，其工作原理如下

 　　近年來危險(xiǎn)活動不斷升級，環(huán)境污染趨于惡化，部分地區(qū)Du品交易日益泛濫，發(fā)展快速、便攜、靈敏的檢測儀器對這些過程進(jìn)行監(jiān)控受到人們的廣泛關(guān)注。離子遷移譜儀恰恰順應(yīng)了這個趨勢，它采用的離子遷移譜技術(shù)是二十世紀(jì)七十年代開展起來的一門新興的化學(xué)剖析技術(shù)，被普遍應(yīng)用于測定痕量的化學(xué)物品，Du品，Bao炸物，以及空氣污染物等。跟其他的有機(jī)化合物剖析儀器相比擬，離子遷移譜儀體積小，靈活度高，適用范圍廣，剖析時間快，能在大氣壓和室溫下工作，是一種前景寬廣的檢測儀器。
 



　　離子遷移譜技術(shù)的中心部件是漂移管，工作原理如下：
　　首先被檢測的樣品蒸汽或微粒氣化后經(jīng)過一層半浸透膜濾除其中的煙霧、無機(jī)分子和水分子等雜質(zhì)，然后被載氣攜帶進(jìn)入漂移管的反響區(qū)。在反響區(qū)內(nèi)，樣品氣首先被63Ni放射源發(fā)射的射線電離，構(gòu)成產(chǎn)物離子，在反響區(qū)電場的作用下，產(chǎn)物離子移向離子門。控制離子門的開關(guān)脈沖，構(gòu)成周期性進(jìn)入漂移區(qū)的離子脈沖。在漂移電場的作用下，產(chǎn)物離子沿軸向向搜集電極漂移。離子的遷移率依賴于其質(zhì)量、尺寸和所帶電荷。不同物質(zhì)生成的產(chǎn)物離子在同一電場下的遷移率不同，因而經(jīng)過整個漂移區(qū)長度所用的漂移時間也不同。在已知漂移區(qū)長度和漂移區(qū)內(nèi)電場條件下，丈量出離子經(jīng)過漂移區(qū)抵達(dá)搜集電極所用的時間，就能夠計(jì)算出離子的遷移率（遷移率的定義是指在單位電場強(qiáng)度作用下離子的漂移速度），從而能夠辨識被檢測物品種；經(jīng)過丈量離子峰的面積，就能夠預(yù)算出被檢測物的濃度；經(jīng)過改動反響區(qū)和漂移區(qū)電場方向，IMS漂移管能夠同時監(jiān)測正負(fù)離子。因而，能夠同時監(jiān)測多種化學(xué)物質(zhì)。